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ATLAS実験で使用予定の電子回路の放射線耐性試験を行いました

2022年7月27日から8月5日まで、名古屋大学のコバルト60照射室にて、ATLAS実験で使用予定の電子回路の放射線耐性試験を行いました。

ATLAS実験では、2026年から2028年に、トリガー・読み出しシステムの大々的な改良を行い、その後10年ほどで現在の20倍のデータを取得する予定です。名古屋大学は、ATLAS日本グループの他の研究機関とともに、ミューオンを捉える検出器の電子回路の改良を担当しています。この電子回路は放射線環境下に置かれるため、相応の放射線耐性が求められます。今回は、電子回路の主要構成要素の一つであるSFP+光送受信器にガンマ線を照射し、電離損傷に対する耐性を評価しました。

試験の結果、SFP+光送受信器が要求を満たす耐性を持つことがわかりました。手法や結果の詳細は、9月に開かれる日本物理学会2022年秋季大会で公表予定です。

今回、初めての放射性耐性試験を自分主導で行わせていただきました。慣れないことが多く大変でしたが、参加メンバーの協力のおかげで、無事に終えることができました。ありがとうございました。
(博士前期課程1年 橋本 大輔)

放射線を取り扱う責任の伴う作業の中で、目標達成に向けてみんなで実験に取り組むことはとても良いグループワークの経験になります。今回の照射試験でも、照射対象機器についての知識やその他多くの発見を得られて、充実した期間となりました。
(博士前期課程2年 鍋山 友希)


SFP+光送受信器のガンマ線照射前の性能を検証する大学院生。照射による損傷とその他の原因による損傷を切り分けるため、照射直前に事前測定することは欠かせません。 照射エリアでSFP+光送受信器のセットアップをする大学院生。電離損傷の影響は、電子回路に電源を入れている時と、入れてない時で、異なることがあります。本照射試験では、実際の実験環境に近い状態を作るため、電源を入れている状態で照射を行いました。 ガンマ線照射後に、SFP+光送受信器の動作を検証する大学院生。きちんと動作するか、ドキドキしながらの検証でした。

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